陈婉清开始测试，一号样品是韩嘉莹的P3T体系，曝光时间先设置为10秒。

十三秒后，曝光、成像结束，可以隐约的看出样品信号。

随后，学姐又增大曝光时间为100秒。

得到的新图像，样品信号更加明显。

许云贵凑过去，仔细观察电脑上的图像，说道：

“信号看着还可以啊，面内、面外的信号峰都出来了，你们就按照现在的情况继续测吧。”

随后，他又问道：“对搜索、开关光这些基本操作都会吧。”

许秋点点头道：“都会的。”

“那我给你们留个联系方式，有事直接电话联系我。”

继续测试。

二号到四号样品得到的数据，看起来都没有问题。

似乎X射线能量提高，对于实验结果并没有什么影响。

可测到第五号样品的时候，陈婉清突然发现，样品信号中出现了许多高强度的杂质点。

而且按照之前的处理方法，试着旋转样品角度，却发现不管怎么旋转，这些杂质点都无法完全去除。

由于韩嘉莹的分工是更换样品，来来回回的旋转角度，把她给折腾个够呛。

关于这一点，许秋猜测，用高能量的X射线测试对于样品的要求更高，必须要满足薄膜非常平整等条件才行。

但现在样品已经制备好了，只能之后再做进一步的优化，比如眼前的五号样品就只能放弃。

后续测试过程中，又出现了几次类似的情况。

有了第一次的经验，当连续三次换角度都没法顺利测试的样品，许秋就直接放弃。

好在每个体系都准备了三个备份样品，倒是没有出现某个体系数据缺失的问题。

此外，许秋还有另外一个发现：

在18keV下测试，信号的强度会比10keV的更强一些，也就是说两者之间的数据难以进行直接比较。

还好他这次有备而来，四种体系均准备了样品，不然之前测试的PCE11老数据不能使用，之后还要再次补测。

……